Издательство ученых Кэмбриджа опубликовало книгу харьковских ученых

Ирина Куличенко, 11 февраля 2020, 13:18
 

В британском академическом издательстве «Cambridge Scholars Publishing» (Ньюкасл-апон-Тайн, Великобритания) вышла книга ученых НТУ «Харьковский политехнический институт».

Она посвящена рентгеновским методам анализа материалов, а именно: идее комбинирования спорных подходов рентгеновского анализа — фазового и элементного.  Ее название — «Analyzing Materials Using Joint X-ray Fluorescence and Diffraction Spectra» (Анализ материалов с использованием совместных рентгеновских флуоресцентных и дифракционных спектров). Авторы книги — научные сотрудники кафедры физики металлов и полупроводников НТУ «ХПИ» Игорь Михайлов, Алексей Батурин и Антон Михайлов.
 
«Книга посвящена анализу материалов — комплексным методам, в которых совмещается рентгенофазовый и рентгенофлуоресцентный анализ. В этом и есть ее новизна, потому что в классическом понимании эти подходы к анализу материалов являются противоречивыми — то есть, требуют противоположных условий съемки. С помощью оригинальной системы вторичных излучателей нам удалось разместить пики дифракции на «пустых» участках спектра флуоресценции. Впервые эта идея была опубликована в журнале «Вопросы атомной науки и техники» (в 2014 г.), а статья была отмечена в ежегодном английском обзоре «2014 Atomic Spectrometry Update — a Review of Advances in X-ray Fluorescence Spectrometry». Работа же над книгой заняла почти два года и в ней нашли отображение результаты работы не только нашей лаборатории, но и всей кафедры за последние 30 лет», — рассказал один из авторов книги Антон Михайлов.
 
Книга «Analyzing Materials Using Joint X-ray Fluorescence and Diffraction Spectra» будет полезна специалистам в области физики твердого тела, студентам и аспирантам, которые углубленно изучают данную тематику. Антон Михайлов также отметил, что ряд статей на эту тему был опубликован и в ведущих английских и американских журналах «X-Ray Science & Technology», «Review of Scientific Instrument», «X-Ray Spectrometry».
Подписаться на новости

Поиск по архиву:

Подраздел:
Материал:
ПнВтСрЧтПтСбВс

Выбрать по тегу